×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
CORC
首页
科研机构
检索
知识图谱
申请加入
托管服务
登录
注册
在结果中检索
科研机构
北京大学 [4]
内容类型
其他 [4]
发表日期
2017 [1]
2016 [3]
×
知识图谱
CORC
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共4条,第1-4条
帮助
限定条件
内容类型:其他
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
作者升序
作者降序
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
Mean field study of a propagation-turnover lattice model for the dynamics of histone marking
其他
2017-01-01
Fan Yao
;
Fang Ting Li
;
TieJun Li
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2017/12/03
histone marking
contact process
mean field approximation
boundary layer analysis
Learning rates of regression with q-norm loss and threshold
其他
2016-01-01
Hu, Ting
;
Yao, Yuan
收藏
  |  
浏览/下载:4/0
  |  
提交时间:2017/12/03
Insensitive q-norm loss
quantile regression
reproducing kernel Hilbert space
sparsity
COVERING NUMBER
Analysis of Kirk effect of an innovated high side Side-Isolated N-LDMOS device
其他
2016-01-01
Lai, Ciou Jhong
;
Sheu, Gene
;
Chien, Ting Yao
;
Wu, Chieh Chih
;
Lee, Tzu Chieh
;
Deivasigamani, Ravi
;
Wu, Ching Yuan
;
Chandrashekhar
;
Yang, Shao Ming
收藏
  |  
浏览/下载:2/0
  |  
提交时间:2017/12/03
Study of impact of LATID on HCI reliability for LDMOS devices
其他
2016-01-01
Chandrashekhar
;
Sheu, Gene
;
Yang, Shao Ming
;
Chien, Ting Yao
;
Lin, Yun Jung
;
Wu, Chieh Chih
;
Lee, Tzu Chieh
收藏
  |  
浏览/下载:6/0
  |  
提交时间:2017/12/03
HOT-CARRIER RELIABILITY
DEGRADATION
TRANSISTORS
MOSFET
©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by
CSpace