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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 限定条件 专题：上海大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 IC design for OLED scan driver with dual radix clock and acyustable grey scale 会议论文 Asia Display 2007, AD'07, 2007-03-12 作者:  Feng, Ran[1];  Xu, Mei-Hua[2] 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/05/10 An adjustable clock scan structure for reducing testing peak power 会议论文 ICEMI 2007: PROCEEDINGS OF 2007 8TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON ELECTRONIC MEASUREMENT & INSTRUMENTS, VOL IV, 2007-08-16 作者:  Zhang Jinyi[1];  Zhang Tianbao[2];  Yun Feng[3];  Gui Jianghua[4] 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/05/10 design for testability  fault coverage  peak power consumption  circuits under test   Multi-phase clock scan technique for low test power 会议论文 HDP'07: Proceedings of the 2007 International Symposium on High Density Packaging and Microsystem Integration, 2007-06-26 作者:  Zhang, Jinyi[1];  Zhang, Tianbao[2];  Zuo, Qinghua[3] 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2019/05/10 average power dissipation  design for testability  fault coverage  peak power dissipation  circuits under test   IC design for OLED scan driver with dual radix clock and adjustable grey scale 会议论文 AD'07: Proceedings of Asia Display 2007, Vols 1 and 2 作者:  Feng, Ran[1];  Xu, Mei-hua[2];  Chen, Zhang-jin[3] 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2019/05/10 OLED  precharge circuit  dual radix interleaving clock  dual state machine locks  RAM management strategy