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	Wavelet analysis of higher harmonics in tapping mode atomic force microscopy
	Wang, Zhenyu; Qian, Jianqiang; Li, Yingzi; Zhang, Yingxu; Song, Zihang; Dou, Zhipeng; Lin, Rui
刊名	MICRON
	2019
卷号	118页码:58-64
关键词	Atomic force microscopy Higher harmonic Analytic wavelet transform Generalized Morse wavelet
ISSN号	0968-4328
DOI	10.1016/j.micron.2018.12.007
URL标识	查看原文
收录类别	SCIE ; EI ; PUBMED
WOS记录号	WOS:000458595700007
内容类型	期刊论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/5922554
专题	北京航空航天大学
推荐引用方式 GB/T 7714	Wang, Zhenyu,Qian, Jianqiang,Li, Yingzi,et al. Wavelet analysis of higher harmonics in tapping mode atomic force microscopy[J]. MICRON,2019,118:58-64.
APA	Wang, Zhenyu.,Qian, Jianqiang.,Li, Yingzi.,Zhang, Yingxu.,Song, Zihang.,...&Lin, Rui.(2019).Wavelet analysis of higher harmonics in tapping mode atomic force microscopy.MICRON,118,58-64.
MLA	Wang, Zhenyu,et al."Wavelet analysis of higher harmonics in tapping mode atomic force microscopy".MICRON 118(2019):58-64.

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